PDL/IL多功能測試儀

General Photonics公司的PDL/IL多功能測試儀(yi) (PDL-201)采用大值/小值搜尋法(符合TIA/EIA-455-198標準)，能夠對器件的偏振相關(guan) 損耗(PDL)、插入損耗(IL)、光功率進行快速測量，測量速度0.2s。該測試儀(yi) 工作波長覆蓋1260～1620nm，在高、低PDL和各種SOP的情況下都能得到精確的測量結果。該測試儀(yi) 擁有RS-232、USB 及以太網接口，可以方便地與(yu) 計算機連接，進行遠程控製和數據傳(chuan) 輸，是精確、快速測量無源器件、DWDM 器件的理想儀(yi) 器。

主要應用：

1、偏振相關(guan) 損耗(PDL)的測量

2、插入損耗(IL)的測量

3、器件特性監測

PDL/IL多功能測試儀(yi) 技術規格
PDL-201在1260至1650 nm的波長範圍內(nei) 工作。它的測量速度為(wei) 30毫秒，並且可以在整個(ge) 測量範圍內(nei) 準確地測量PDL或IL到±（0.01 + PDL或IL的5％）dB以內(nei) 。PDL-201可以從(cong) 前麵板進行控製，也可以通過USB，以太網，RS-232或GPIB接口進行遠程控製。此外，它還具有用戶可配置的模擬監控器電壓輸出，以監控PDL值。

與(yu) 所有Gen2儀(yi) 器一樣，它具有OLED圖形顯示屏，人體(ti) 工學鍵盤和通用電源。