VisionChina上海 | 淩雲光AI+Vision創新產品引領智造升級

7月8日-10日，中國機器視覺展在上海盛大舉(ju) 行，淩雲(yun) 光攜多款創新展品精彩亮相，聚焦AI+Vision為(wei) 工業(ye) 製造注入新質生產(chan) 力。

BeamMaster M² 光束質量分析儀

BeamMaster M²是一種用於(yu) 測量和評估激光光束質量的儀(yi) 器，通過測量M²質量因子等參數來表征激光光束的質量，一體(ti) 化設計精致小巧，配置高精度電動導軌及高分辨率相機捕捉激光光斑的圖像，通過圖像處理軟件分析光斑的形狀、質心、有效直徑、光束發散角、束腰直徑、瑞利長度、M²質量因子等參數，實現快速一鍵式測量。廣泛應用於(yu) 光學、激光技術、光纖通信、材料加工等領域，精確控製和優(you) 化激光光束的質量。

高速真彩色線掃相機

SF6300係列萬(wan) 兆網線掃相機，使用最新多線TDI技術芯片，輸出高靈敏度圖像。相機分辨率8K/16K，支持黑白/彩色，最高行頻可達200KHz，支持標準GenICam協議。設計多種應用專(zhuan) 屬ISP預處理功能，如分時頻閃、多光場控製、空間校正、色彩矯正等算法功能。適用於(yu) 鋰電、光伏、PCB、印刷、半導體(ti) 等高精端工業(ye) 檢測場景。

短波紅外顯微自動對焦係統

紅外顯微自動對焦係統是由淩雲(yun) 光最新研發的2k分辨率紅外線掃相機搭配自動對焦係統。2K分辨率紅外短波線掃相機，對於(yu) 矽基產(chan) 品、膜材產(chan) 品具備較好穿透能力，特別適合半導體(ti) 等行業(ye) 產(chan) 品內(nei) 部特征識別及缺陷檢測。自動對焦係統重複定位精度可達0.15μm，模塊化設計，可針對不同產(chan) 品的精度、特征等需求定製方案。廣泛適用於(yu) 半導體(ti) 顯微、半導體(ti) 內(nei) 部缺陷檢測、FPD線路檢測等高精度需求場景。

電池片PL檢測組件

SR-PD係列PL檢測模組為(wei) 高功率激光、相機、鏡頭一體(ti) 機。基於(yu) 光致發光原理，無接觸檢測方案，針對光伏電池片中的隱裂、霧狀、發黑、吸盤印、石墨舟印、同心圓、皮帶印、髒汙等缺陷檢測，同時不會(hui) 造成二次隱裂缺陷，大幅度提升產(chan) 線良率，減少不良片流入後段工序導致的物料浪費、產(chan) 線停機。
此外現場還展出了16KTDI高速背照式線掃相機、高性能棱鏡真彩色線掃相機、高性能板級麵陣相機、應對惡劣環境麵陣相機、邊緣端智能處理器、紅外、線掃全係列相機等創新產(chan) 品及應用吸引了眾(zhong) 多觀眾(zhong) 互動，沉浸式體(ti) 驗產(chan) 品魅力。
未來，淩雲(yun) 光將以”AI+VIsion”技術為(wei) 引擎，持續在機器視覺領域不斷推陳出新，為(wei) 行業(ye) 客戶提供創新產(chan) 品與(yu) 服務，助力智能製造從(cong) 感知互聯走向萬(wan) 物智能，推動行業(ye) 高質量發展。