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如果您的工作是和高反膜或抗反射膜的性能表征相關(guan) ，那您一定知道它有多麻煩！但如果告訴您，有一鍵解決(jue) 膜層表征的辦法，僅(jin) 僅(jin) 是輕擊鼠標就能得到膜層任意波長的特性，並且精度還很高，您是否想嚐試一下？
新一代的Glacier-C超連續光腔衰蕩反射儀(yi) 正是為(wei) 此而生。
//可測量到的鏡麵反射率數值高達99.9995%
常規的基於(yu) 吸收和反射的測量方法靈敏度有限，難以準確表征如今的超反射塗層性能。這兩(liang) 種方法測量的反射率極限的典型值＜99.9%，對應著光損耗＞1000ppm。
而腔衰蕩反射儀(yi) ，例如超快創新公司（Ultrafast Innovations GmbH）新的Glacier-C產(chan) 品，是通過探測光腔內(nei) 的能量衰減來測量光損耗。由於(yu) 光在腔內(nei) 經曆了多次的往返損耗，每次的損耗越小，光在腔內(nei) 駐留的時間就越長，終能獲得足夠高的靈敏度。Glacier-C係統能測量到的樣品的光損耗在1000ppm到5ppm之間，對應的反射率為(wei) 99.9%到99.9995%。
//測量450nm到2000nm範圍內(nei) 任意波長的膜層特性
當前的反射儀(yi) 大都是基於(yu) 激光二極管的方式，其能提供的測試波長受限於(yu) 激光的輸出波長，通常隻能提供單波長，雙波長，或多三波長的測試。
而Glacier-C產(chan) 品能為(wei) 您提供不受限製且特別靈活的波長選擇，輕擊鼠標就可以在450nm到2000nm範圍內(nei) 選擇任意波長進行測試，簡單又有效。
您肯定要問了，這是如何實現的呢？其實，除了采用腔衰蕩技術，Glacier-C係統還使用了超連續譜白光光源和可調單色濾波器。超連續譜白光選擇的是NKT Photonics公司的SuperK Compact光源，可提供超寬的波長範圍，同時搭配了Superk Select可調濾波器，對輸出光譜範圍內(nei) 的任意波長進行選擇。
這就為(wei) 用戶提供了特別靈活的膜層表征能力。隻需要一台設備，就可以完成反射鏡和膜層在任意波長上的特性表征。
超快創新公司使用Glacier-C在940nm波長測量到的某片鍍膜後的晶圓的反射率損耗曲線。該曲線數據是通過衰蕩腔加入樣品前後的損耗值做差得到的。這也證明了Glacier-C係統的強大，不僅(jin) 能測量反射鏡的反射率，也能對其他表麵，如晶圓或鍍有抗反射膜的光學器件進行寬波段的表征。
Glacier-C能輔助科研人員利用鍍膜設施簡單有效的開發並表征膜層質量，監控鍍膜過程，設計反射鏡以及研究高反膜和低損耗抗反射膜的特性。
//助力公司生產(chan) 和科學研發
NKT超連續譜光纖激光器，該係列麵向行業(ye) 近二十年。產(chan) 品性能穩定可靠，可替代多波長激光器、低功率寬帶光源（比如ASE、SLED），廣泛應用於(yu) 顯微成像、熒光壽命分析、光學相幹斷層成像、白光幹涉、光譜分析等領域。
技術參數
重複頻率：78 – 2MHz（150 kHz或320MHz可選）
光譜範圍：390-2400nm（UV拓展波段可選）
總功率：6.5W（110mw等不同功率型號可選）
觸發輸出抖動：<20ps
光束質量M²：<1.1
輸出光束：高斯，單模
輸出選項：準直輸出
該產(chan) 品操作簡單，免維護。豐(feng) 富的濾波配件設計，可滿足單波長輸出、多波長同時輸出、寬帶輸出等不同應用需要！
